Quang điện: Vết nứt mô-đun, điểm nóng và hiệu ứng PID là ba yếu tố quan trọng ảnh hưởng đến hiệu suất của mô-đun quang điện silicon tinh thể. Hôm nay, tôi sẽ chỉ cho bạn lý do gây ra các vết nứt tế bào, cách nhận biết và ngăn ngừa chúng.
1. Sự hình thành và phân loại các vết nứt trong môđun quang điện
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
Ngoại lực: Pin sẽ bị tác động bởi ngoại lực trong quá trình hàn, cán, đóng khung hoặc xử lý, thử nghiệm, ... Khi các thông số được cài đặt không đúng, thiết bị hỏng hóc hoặc vận hành không đúng cách sẽ gây ra các vết nứt.
Nhiệt độ cao: Tế bào không được gia nhiệt trước ở nhiệt độ thấp, sau đó đột ngột gặp nhiệt độ cao trong thời gian ngắn rồi nở ra sẽ gây ra các vết nứt, chẳng hạn như nhiệt độ hàn quá cao, nhiệt độ cán không hợp lý và các thông số khác.
Nguyên liệu: Những khiếm khuyết trong nguyên liệu cũng là một trong những yếu tố chính dẫn đến nứt vỡ.
Theo hình dạng của vết nứt ô có thể chia đại khái thành 5 loại: vết nứt dạng cây, vết nứt toàn diện, vết nứt xiên, song song với thanh cái, vuông góc với lưới điện và vết nứt xuyên toàn bộ ô.
2. The impact of "cracking" on component performance
Dòng điện được tạo ra bởi các tế bào năng lượng mặt trời silicon tinh thể chủ yếu được thu và xuất bởi các đường thanh cái và đường lưới mỏng có bề mặt vuông góc với nhau. Do đó, khi các vết nứt (hầu hết là các vết nứt song song với các thanh cái) làm cho các đường lưới mỏng bị đứt, dòng điện sẽ không được phân phối hiệu quả đến các thanh cái, dẫn đến hỏng một phần hoặc thậm chí của tế bào, và cũng có thể gây ra các mảnh vỡ, các điểm nóng, v.v. ., đồng thời gây ra sự suy giảm công suất của các linh kiện.
Third, the method of identifying "cracks"
EL (Electroluminescence, electroluminescence) là một loại thiết bị phát hiện khuyết tật bên trong của pin mặt trời hoặc các thành phần, là một phương pháp đơn giản và hiệu quả để phát hiện các vết nứt. Sử dụng nguyên tắc điện phát quang của silicon tinh thể, hình ảnh hồng ngoại - gần của thành phần được thu lại bằng máy ảnh hồng ngoại có độ phân giải cao - để thu được và xác định các khuyết tật của thành phần. Nó có ưu điểm là độ nhạy cao, tốc độ phát hiện nhanh và kết quả trực quan. Hình ảnh dưới đây là kết quả thử nghiệm của EL, cho thấy rõ ràng các khuyết tật và vết nứt khác nhau.
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
Năm, những điểm chính của việc ngăn ngừa các vết nứt trong mô-đun quang điện
In the production process and subsequent storage, transportation, and installation, avoid improper external force intervention on the battery cells, and also pay attention to the temperature change range of the storage environment.
与此原文有关的更多信息要查看其他翻译信息,您必须输入相应原文